国产半导体检测再破局！高视科技推出新设备对标 KLA 8935

国产半导体检测再破局！高视科技推出新设备对标 KLA 8935

在半导体设备国产化的关键赛道上，又一核心环节传来捷报！苏州高视半导体技术有限公司近期正式推出对标国际巨头 KLA 8935的晶圆外观缺陷检测设备（AOI），目前设备已在客户现场验证，核心性能数据已初步实现与 KLA8935的精准对标。这一设备的推出，标志着高视科技在高端检测领域实现重大技术突破，旨在为全球半导体制造厂商提供超越期望的检测解决方案，直接对标并致力于在综合性能上比肩国际领先型号KLA 8935。

作为半导体制造的 “火眼金睛”，晶圆外观缺陷检测设备直接决定芯片良率与可靠性。KLA 8935晶圆前端制程和晶圆先进制程的检测市场，其技术壁垒曾让国产设备望尘莫及。而高视科技此次推出的新品，不仅实现了对这一标杆产品的性能追平，更依托本土化服务优势，为国内半导体企业提供了高性价比的一站式解决方案。

深耕检测赛道，高视半导体底气何在？

高视科技在半导体晶圆制程与先进封装制程的一站式外观缺陷检测方案提供商，业务线全面对标 KLA、Camtek 等国际老牌厂商，产品覆盖硅基、SiC、先进封装、Mini/Micro LED 等多领域，出货设备中 90% 以为晶圆级检测产品，已与国内外多家知名厂商建立稳定合作关系。

对于这款重磅新品，公司销售负责人张磊信心满满：“当前国内半导体产业正迎来先进制程加速迭代与国产化替代双重机遇，我们的对标 KLA 8935产品在核心检测精度、吞吐量等关键指标上正在大客户现场验证，目前数据展示能够完美适配先进制程的检测需求。未来，这款产品将在先进制程中发挥关键作用，为国内芯片制造良率提升贡献核心力量。”

该设备的核心优势在哪？

1.具备纳米级的缺陷检测灵敏度，能够稳定检出各类晶圆缺陷、颗粒污染和图形化缺陷，满足从成熟制程到先进制程的苛刻要求。2.通过优化的光路设计和高速平台运动控制，在保证极高检出率的同时，实现了业界领先的产能，大幅降低客户的单晶圆检测成本。3.内置自研的AI深度学习算法，能够实时对海量缺陷数据进行精准分类与复判，极大降低误报率，提升操作效率，加速根源分析。4.秉承高视科技一贯的精密工程技术， 设计坚固，具备出色的长期稳定性和低维护成本，确保产线7x24小时连续稳定运行。5.作为中国本土企业，高视科技能够提供更快速、更贴近客户需求的现场技术支持、备件供应与软件升级服务，为客户产能保驾护航。

国产替代进入深水区，检测设备迎来黄金期

长期以来，国内半导体检测设备市场 90% 以上依赖进口，KLA 等国际巨头占据绝对主导地位。但随着国内企业在光学设计、AI 算法、核心零部件国产化等方面的持续突破，国产检测设备正从 “能用” 向 “好用”“耐用” 跨越。

从高视科技高端设备到大厂验证，到中科飞测、御微等企业的产品量产交付，国产设备不仅在技术参数上追平国际标杆，更在成本控制、定制化服务、快速响应等方面形成本土化优势。正如张磊所言：“先进制程的竞争本质是设备与工艺的协同竞争，国产检测设备的崛起，将为国内半导体产业摆脱‘卡脖子’困境提供关键支撑。”

高视科技总经理魏总表示：“对标KLA 8935的设备推出是我们‘技术自立’战略下的一个里程碑。我们不仅实现了对国际顶尖产品的对标，更在AI应用和客户服务响应上形成了我们的独特优势。我们相信，这款新设备将成为芯片制造商在提升良率竞赛中值得信赖的新选择。”

据了解，该设备高视科技现已接受订单！